簡(jiǎn)單介紹 L3320D三通道直流電阻測(cè)試儀對(duì)于星型接法的繞組測(cè)試，儀器可以采取三相同時(shí)測(cè)試的方式測(cè)試A0、B0、C0相的電阻，節(jié)省測(cè)試時(shí)間；
更新時(shí)間：2016-06-13
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
簡(jiǎn)單介紹 SUTE3320三通道助磁直阻測(cè)試儀內(nèi)部采用自動(dòng)助磁的方法，比直接用大電流測(cè)試速度快；并可選配消磁功能，可減小大電流測(cè)試直流電阻后剩磁大帶來(lái)的危害；
更新時(shí)間：2016-06-13
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
簡(jiǎn)單介紹 L3320三通道助磁直阻測(cè)試儀儀器內(nèi)部可以存儲(chǔ)測(cè)試數(shù)據(jù)200條，還可以使用優(yōu)盤(pán)存儲(chǔ)數(shù)據(jù)方便用戶(hù)導(dǎo)入電腦處理，并帶有RS232接口；
更新時(shí)間：2016-06-13
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
簡(jiǎn)單介紹 SUTE3340三通道助磁直阻測(cè)試儀儀器內(nèi)部采用自動(dòng)助磁的方法，比直接用大電流測(cè)試速度快；并可選配消磁功能，可有效減小大電流測(cè)試直流電阻后剩磁大帶來(lái)的危害。
更新時(shí)間：2016-06-13
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
簡(jiǎn)單介紹 L3340三通道助磁直阻測(cè)試儀儀器內(nèi)部采用自動(dòng)助磁的方法，比直接用大電流測(cè)試速度快；并可選配消磁功能，可有效減小大電流測(cè)試直流電阻后剩磁大帶來(lái)的危害。
更新時(shí)間：2016-06-13
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
